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半导体封测治具:老化测试冷板、测试座温控与封装热沉

面向芯片封装与测试环节的热管理治具:老化(Burn-in)测试冷板、测试座 / 探针卡温控板、TEC 温控头、ATE 治具冷板,以及钼铜、钨铜、铝碳化硅等封装热沉底板与盖板。紫铜镀镍或铝合金,按测试座孔位与压力定制,氦检漏与平面度全检。

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半导体封测治具:芯片测试座压接冷板与紫铜温控头,东吉热控

一句话结论:半导体封测治具是芯片封装与测试环节用的热管理部件:老化(Burn-in)测试冷板、测试座与探针卡温控头、ATE 治具冷板、TEC 冷板,以及钼铜、钨铜、铝碳化硅、CMC 等封装热沉底板与盖板。东吉热控用紫铜镀镍与铝合金按测试座孔位、压接力和温控要求定制,封装热沉按热膨胀匹配选材,氦检漏与平面度全检。

  • 老化测试冷板:多路并联,温度一致性
  • 温控头:紫铜镀镍 CNC,配 TEC 高低温
  • 封装热沉:钼铜 / 钨铜 / 铝碳化硅 / CMC
  • TEC 标准品 T-HS202332
  • 平面度、氦检漏全检
更新日期:2026 年 9 月 5 日 · 数据来源:东吉热控产品规格书与实测报告

封测环节的三个热管理难点

老化测试高密度发热

Burn-in 板上数十颗芯片同时满载,需要冷板均匀带走热量并保持各测试位温度一致;多路并联流道 + 紫铜镀镍板体,板面温差按 CFD 控制。

测试座温控与压力

测试座 / 探针卡温控头既要导热又要承受压接力,贴装面平面度与镀层耐磨性关键;紫铜镀镍 CNC 温控头,配 TEC 做高低温循环。

封装热沉材料匹配

功率器件与射频封装需要与芯片热膨胀匹配的热沉:钼铜、钨铜、铝碳化硅、铜 / 金刚石复合等,按封装形式加工底板、盖板与针翅底座。

平台 / 型号适配清单

环节治具 / 部件材质要点
老化测试 Burn-in老化板背面冷板、机柜级 Manifold紫铜镀镍 / 铝合金多路并联,温度一致性
测试座 / 探针卡温控头、压接冷板紫铜镀镍 CNC平面度、TEC 高低温
ATE 治具治具底座冷板、TEC 冷板铝 FSW / 紫铜T-HS202332 TEC 冷板
功率封装IGBT / 模块底板铝碳化硅针翅、钼铜热膨胀匹配
射频 / 光电封装载体、盖板、热沉钨铜、钼铜、CMC镀镍 / 镀金

推荐工艺矩阵

部件推荐备选材质
老化冷板★★★ 真空钎焊 / CNC 腔体★★ 埋管紫铜镀镍
温控头★★★ 紫铜 CNC + 镀镍★ TEC 组件
封装底板★★★ 铝碳化硅 / 钼铜 / 钨铜★★ 紫铜按封装形式
治具冷板★★ FSW★★★ CNC铝合金
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关于半导体封测治具的常见问题

老化测试冷板怎么保证各测试位温度一致?

按老化板发热分布做多路并联流道与 CFD 仿真,紫铜镀镍板体,出厂实测板面温差。

封装热沉用什么材料?

按芯片热膨胀系数匹配:钼铜、钨铜、铝碳化硅、铜钼铜复合;表面镀镍或镀金。

测试座温控头能做高低温循环吗?

能。紫铜镀镍温控头配 TEC 与冷板,按客户温度范围与循环速率设计。

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